Новый сканирующий магнитный микроскоп создали в НИТУ «МИСиС»

Очередной прорыв в области лабораторного оборудования — на этот раз силами НИТУ «МИСиС». Исследователи разработали сканирующий магнитный микроскоп на основе нового датчика, с помощью которого можно получить картинку магнитных полей вблизи поверхности объекта. В отличие от многих других микроскопов подобного типа, новинка никак не влияет на объект исследования, отличается хорошим разрешением, высокой чувствительностью и сравнительной простотой.

Сканирующие микроскопы нужны для того, чтобы исследовать объект, не разрушая его, например, для обнаружения всевозможных дефектов конструкций и измерения магнитных следов биологических объектов. При этом на чувствительность лабораторного оборудования непосредственное влияние оказывает датчик — именно в нём заключается инновационность предложенного НИТУ «МИСиС» решения. Свой микроскоп они собрали на основе двухмерного плоттера, в котором на место печатающей головки поместили магнитный датчик из аморфного ферромагнитного микропровода длиной в 3–4 мм.

Двигаясь неподалёку от исследуемого объекта, головка-датчик с определённым шагом измеряет вертикальную компоненту магнитного поля. Чем меньше размер датчика и чем плотнее он прилегает к объекту, тем точнее оказывается результат.

Новинка позволила достичь пространственного разрешения, равного 200 микрон, с чувствительностью датчика около 10 наноТесла — аналогично выпущенному не так давно сканирующему магнитометру японского производства. Однако российский микроскоп, в отличие от японского, будет использоваться для визуализации магнитных полей исследуемых объектов. К тому же, он имеет некоторые конкурентные качества: не влияет на объект, имеет отличное разрешение полученной картинки и превосходную магнитную чувствительность, а также очень прост в производстве и эксплуатации.